(陈丹/Q)艾思荔PCT加速老化实验箱可测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。 PCT加速老化实验箱技术优势: 1、少见采用全自动补充水位之功能,试验**中断、 2、试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽 压表计算出来的,能够真正掌握实际的试验过程。 3、干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。 4、精准的压力/温度对照显示,完全符合温湿度压力对照表要求。 PCT加速老化实验箱性能: 1、测试环境条件4、2、测试方法环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、 2、温度范围105℃→+132℃、(控制点) 3、温度波动度±0、5℃、 4、温度偏差±2、0℃、 5、湿度范围75%~**R、H、(控制点) 6、湿度波动度±2、5%R、H、 7、湿度均匀度±5、0%、 8、压力范围0、5~2㎏/㎝2(0、05~0、196MPa)(控制点) 9、升温时间常温→+132℃35min、 10、升压时间常压→+2㎏/㎝240min PCT加速老化实验箱试样限制本试验设备禁止: 易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。 PCT加速老化实验箱用途: PCT加速老化实验箱适用于*、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测,相关之产品作加速寿命试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性,气密性。 东莞艾思荔检测仪器有限公司为广大客户提供优质的PCT加速老化实验箱产品,质量可靠是我们的管理目标,薄利多销是我们的经营方针、热情服务是我们的工作宗旨,品质保证是我们的承诺,欢迎前来咨询! 相关PCT加速老化实验箱关键词搜索: Pct老化试验/PCT/72.html HAST非饱和高压加速老化/products/hastfbhgyjslhx/20.html pct高压加速老化试验/products/pctgyjslhsyx/15.html 高压加速寿命试验/products/hastgjssmsyj/179.html HAST老化试验/hast/370.html Pct加速老化试验/hast/40.html pct老化试验/gyjslhx/341.html